产品详情
无损检测设备,检测设备.芯片检测设备:
广泛用于:芯片,IC芯片,BGA,集成电路,电子元器无损检检测.
主营产品:工业DR影像设备,平板探测器,DR平板探测器,DR探测器机电设备,检测仪器
详细参数 | |||
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品牌 | 其他 | 型号 | 其他 |
产品用途 | 无损检测设备,检测设备.芯片检测设备 | 产品别名 | 芯片检测设备 |
适用行业 | 无损检测设备,检测设备.芯片检测设备 | 产地 | SH |
无损检测设备,检测设备.芯片检测设备:
广泛用于:芯片,IC芯片,BGA,集成电路,电子元器无损检检测.
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