美国泛美精确测厚仪 35DL

美国泛美精确测厚仪 35DL

精确超声测厚仪

Panametrics® 35系列精确超声测厚仪为测 量一侧难以或无法达到的材料的厚度，提 供了操作简便且性价比很高的解决方案。 这些坚固小巧的测厚仪可对大多数形状各 异、尺寸不同的材料进行可重复且结果稳 定的厚度测量。精确的厚度测量值以大数 字形式显示在带有背光的LCD屏上；在可 选A扫描模式下厚度测量值与实时波形一 同显示。

实时A扫描（波形）和调整模式

厚度测量值还可由表现被测区域的厚度变化的B扫描横截面图像表示。测量或渡越时间测量可直接测量材料的声速，除此之外，还有很多其它实用的测量 性能。该系列超声测厚仪有4种型号：35型和 35DL型测厚仪用于测量金属、塑料、玻 璃和其它薄壁材料；35HP型和35DL-HP型测厚仪用于测量金属铸件、厚 橡胶、玻璃纤维和复合材料等具有高声速衰减性的材料。35DL型和35DL-HP型测 厚仪较其它仪器增加了一个基于文件的通 用型字母数字数据记录器，其文件格式为 增量型、顺序型和2维栅格。

■ 厚度、声速、渡越时间和缩减率

■ 可选实时A扫描和调整模式

■ 宽泛的厚度范围，可测量薄如0.08毫米（0.003英寸）的厚度

■ 应用自动调用

■ 基于文件的字母数字数据记录器

35型和35DL型仪器用于大多数测量应用

35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因 此这些通用型测厚仪可完成大多数对极薄到极厚材料的厚度测量。 一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的 精度越高。

应用

• 从薄到厚的大多数材料

• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料 瓶、管件、管道及板材

• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属 容器、钢卷材及机加工部件

• 汽缸孔、涡轮叶片

• 玻璃灯泡、瓶子

• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料

• 半径较小的曲面部分或容器

• 分辨率可达0.001毫米（0.0001英寸）

35HP型和35DL-HP型用于测量具有声速衰减性的材料

HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。 这种设计的主要目的是在测量较厚的、具有高声速衰减性或高声速散播性的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下，大多数其它超 声测厚仪无法对这些材料进行测量。

应用

• 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料

• 厚金属铸件

• 厚橡胶轮胎、履带

• 玻璃纤维船体、储罐

• 复合材料板

• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸

35系列仪器的特性

•所有仪器型号的标准配置都具有声速

•宽泛的厚度范围：0.08毫米～635.0毫米（0.0030英寸～25.0英寸），取决于仪器和材料。

•使用接触式、延迟线式、水浸式探 头。 带有默认设置和自定义设置的应用自动调用功能。

•手持式；仅重0.24公斤（8.5盎司）。

•最小/最大值模式。

•高低报警。

•英制和公制单位显示（英寸/毫米）。

•多种语言用户界面。

•电池工作时间长。

应用自动调用功能简化了测量操作

应用自动调用功能简化了厚度测量的操作。在选择了任何一种所存探头的情况下，35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。

存储的标准设置

标准设置包括大多数常用的探头。

存储的自定义设置 在标准设置不能满足特殊的应用需求 时，这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置（35型和35HP型仪 器可调用10个）。

……我们总有一款测厚仪适合您的测量应用

其它挑战、更多选择

Olympus开发设计了一系列种类齐全的超声测厚仪，可满足您的测量应用中的最苛刻的要求。25DL PLUS型和25HP PLUS是两款高级精确测厚仪，带有4 in. x3.3 in.宽屏LCD显示，可显示完整的波形范围和延迟控制。这些测厚仪还带有更先进的基于文件的字母数字数据记录器，以及便于对测量参数进行控制的快捷键盘。

多层材料

25MULTI PLUS型仪器计算并可同时最 多显示4个独立的测量结果。累加模式 可精确显示所选层的厚度总和。

在线应用

25MX PLUS型仪器可以对多种材料进行多点和单点厚度测量。如果与可选的 MX-8多路转换器连接，25MX PLUS可 采集并显示来自多达8个不同探头的厚度测量值。

霍尔效应测厚仪

Magna-Mike® 8500测厚仪将磁探头置于被测材料的一面，将一个小钢珠置于相对的一面进行测量。

缺陷检测

Olympus提供EPOCH系列和Sonic系列便携式超声探伤仪。这些探伤仪广泛地用于检测并表征诸如金属、塑料和复合材料等工程材料内部暗藏的缺陷。

规格齐全的探头和附件

Olympus提供规格齐全的探头、线缆、 耦合剂、校准试块以及其它配件，从 而可满足大多数苛刻的厚度测量应用 要求。我公司高质量的Panametrics Microscan探头具有多种频率、晶片直 径及连接器式样。

• 接触式、延迟线式、水浸式厚度测量探头

• 探头线缆

• 耦合剂

• 校准试块

Olympus公司拥有训练有素、应用及销售经验丰富的工程师代表，他们遍布于世界主要工业区。这些专业人员可以帮助用户针对具体的应用选择具有最佳性价比的解决方案。

35系列的技术规格

模式1：使用接触式探头，测量在激励脉冲 和第一个底面回波之间的时间间隔。

模式2：使用延迟线式或水浸式探头，测量 激励脉冲后的第一个界面回波与第一个底面回波之间的时间间隔。

模式3：使用延迟线式或水浸式探头，测量 激励脉冲发出后，位于第一个界面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔。

测量类型：厚度、声速、渡越时间

显示模式

• 数字式厚度读数

• 横截面B扫描

• A扫描或者波形（所有仪器型号都可选择该功能）

• DB栅格（只存在于35DL型和35DL-HP型仪器中）

厚度测量范围 ：0.08毫米～635毫米（0.003英寸～25英寸）厚度范围取决于测厚仪型号、材料、探头、表面条件及所选设置。

材料声速范围：0.5080 mm/μs～18.699 mm/μs（0.02000in./μs～0.7362 in./μs）

分辨率（通过键区可选）：低：0.1毫米（0.01英寸）标准：0.01毫米（0.001英寸）高：0.001毫米（0.0001英寸）（35型和35DL型）

渡越时间测量范围：0.0µs～109.5µs

渡越时间分辨率：固定在000.01µs。

测量更新速率：4、8、16或者最大Hz值（16 Hz～20Hz，取决于具体应用和测量模式）。

探头频率范围：2.25 MHz～30MHz（35型和35DL型）0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）最小/最大值模式：根据设置显示当前厚度、最小厚度或最大厚度。

显示保持/空白：显示上一个读数之后，接下来屏幕显示空白或者保持这个读数。

报警模式：可编程高低报警设置点，带有视听报警指示器。差值模式：显示实测厚度和参考厚度之间的差值。缩减率模式：显示厚度数值及实测厚度与 参考厚度的百分比差值。应用自动调用：自动为各种默认的和自定 义的探头设置调节内部参数。

其它标准特性：校准锁定模式、内部诊断测试模式、公制/英制单位、机载统计（仅存在于35DL型和35DL-HP型仪器中）。

电源

电池：3节AA碱性电池或者镍氢电池。 工作时间：一般电池供电时间为150小时；开启背光时可持续工作30小时。

电池电量指示器：持续显示电池电量状 态。

电池省电模式：电源自动关闭/持续开启。

交流电源：可选。

一般规格

符合IP-65环境标准：防溅，防撞击机壳。密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。

工作温度范围：–10°c～+50°c（+14°F～122°F）

大小尺寸（宽 x 高 x 厚）：84毫米 X 152毫米 X 39.6毫米（3.31英寸 x 6.0英寸 x 1.50英寸）

重量：0.24公斤（8.5盎司）

自定义语言功能：可将显示文字翻译成多种语言。

35DL型和35DL-HP型仪器的内置数据记录器

数据记录器：35DL型和35DL-HP型仪器可通过USB端口或可选RS-232接口，识别、 存储、调用、清除及传输厚度读数和探头设置信息。

最大存储量：多于31000个厚度读数，或者1300个带厚度读数的波形（需带有波形选项）。

所存数据归档：每个所存的厚度读数的全部信息都被归档，并带有测量状态标记及用以识别材料声速、探头等参数的设置编号。

文件名长度：8位字母数字字符。

标识码：10位字符字母数字标识码系统，可识别或定位被存储的数据。4个文件模板：增量型、顺序型及2D栅格型。来自PC机的手动创建文件。

标准配置

手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限担保。

选购附件

35/WF：实时波形

GageView：接口程序

35DL/RS232：RS-232输出

35DLHP/RS232：RS-232输出

35PCScope：PCScope程序

USB/ADP-115：AC-115电源

USB/ADP-230：AC-230电源

MG2/RPC：橡胶保护套

35/DLRETRO：将35型升级为35DL型。