产品详情
美国泛美超声波测厚 MG2-XT的简介：
Panametrics® MG2-XT型测厚仪具有与 Panametrics MG2型测厚仪相同的功能。 该测厚仪由于增加了B扫描、增益调整、 自动灵敏度优化、回波到回波、Olympus® THRU-COAT®（穿透镀层）、差值模式、 高/低报警、可选动态A扫描等测量功能， 可在条件恶劣的应用中发挥更高的效能。 这款测厚仪是测量表面涂有镀层或漆层的 材料厚度的最理想的仪器
实用测量功能（仅存在于MG2-XT型和MG2-DL型仪器中）
THRU-COAT（穿透镀层）
这是一项专利技术：利用单个底面回波，仪器可同时显示镀层厚度和金属的实际厚度。每次测量需根据校准过的材料声速进行调整。Olympus®的THRU-COAT®（穿透镀层）测量需使用D7906-SM和D7908探头。
可调节波形的实时A扫描
这是一个可选实时A扫描模式：用户可在 测厚仪屏幕上直接观察超声信号波形（A 扫描）；核查厚度读数；还可手动调整 增益和抑制设置，以便在挑战性应用中 最大限度地发挥仪器的测量性能。此利 于操作的选项具有以下功能：手动增益 调整、邻区抑制、回波抑制及延迟。
增益调整
此功能对于测量如铸铁等声波衰减较大的材料非常有效。
• 将增益调整预置为高、低或标准
• 手动增益调整的增量可被设置为1 dB（仅适用于实时A扫描模式）
邻区抑制
可抑制因材料表面粗糙或不规则而引起 的噪声回波（仅适用于实时A扫描模式）。
回波到回波
测厚仪利用多重底面回波，显示不计镀 层厚度的金属的实际厚度：
• 自动回波到回波
• 手动回波到回波（仅适用于实时A扫 描模式）可进行以下操作：
-- 增益调整
-- 邻区抑制
-- 回波抑制
B扫描腐蚀成像
Panametrics MG2-XT型与Panametrics MG2-DL型仪器具有将实时测量的厚度读数转换成横截面图像的B扫描功能。该标准功能在需要察看工件厚度如何根据距离的不同而发生变化的应 用中非常有用。在激活B扫描功能后，当探头接触到被测材料时，屏幕上便会出现横截面厚度图像。最小冻结（Freeze Min）功能用于显示扫查区域内的最小厚度。Panametrics MG2-DL型仪器的数据记录器可存储多达1300幅B扫描图像。
高温表面
配用D790系列探头 （D790、D790--SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型与 Panametrics® MG2-DL型测厚仪，是稳定 测量表面温度高达500oC的材料厚度的理 想仪器。MG2系列仪器的零位补偿功能 通过补偿因热漂移引起的探头延迟线在温度上的变化，增加了在高温表面进行材料厚度测量的精确性。
可快速生成可靠文件的数据采集
内置数据记录器
强大的Panametrics® MG2-DL内置数据记录器可存储、回放、传输31000个厚度读数及其识别码。配有可选实时波形模式功能的测厚仪还可存储1300个带有厚度读数的波形。仪器中所有的存储信息都可被方便地传输到计算机中进行统计分析。
字母数字识别码
用户可以为每一个所存的厚度测量指定 一个含8个字符的文件名和最多可有10 个字母数字的识别码。每个厚度测量的信息被全部归档，其中包括材料声速、探头数据和测量模式等参数信息。
机载统计计算器
Panametrics MG2-DL型仪器的内置数据记录器配有机载统计计算器，可生成直接传输到打印机的报告。
栅格显示（GRIDVIEW）
栅格显示功能（只存在于Panametrics MG2-DL型仪器中）可以栅格格式或扩展的线性格式显示所存的厚度数据。该功能便于用户察看和浏览位于某行某列栅格单元中所存的厚度数据：在显示当前厚度测量值的同时，显示其在栅格中的位置。
GAGEVIEW PRO接口程序
可选GageView™Pro接口程序的应用基于Microsoft® Windows®系统。该程序可收集、创建、打印、管理来自Panametrics MG2-DL型仪器的数据。
• 创建数据集与采样。
• 从测厚仪上下载厚度测量采样，以及将采样上传至测厚仪。
• 编辑存储数据。
• 查看包含厚度读数、测厚仪配置数值及探头配置数值的数据集与采样文件信息。
• 将采样数据传输到电子数据表格及其它程序。
• 收集屏幕捕获图象。
• 打印厚度、设置表格、统计、颜色栅格的报告。
• 更新操作软件。
• 托放到Microsoft Excel® 电子数据表格中。
具有自动识别功能的探头
每个MG2系列仪器都与我们公司生产的可互换式双晶探头系列的所有产品兼容。这些探头的频率、直径及适应温度的能力各不相同，可满足几乎所有应用的要求。
探头工件编号
频率
（MHz）
端部
直径
（mm）
线缆
连接器
方向
范围（在钢中*）
（mm）
温度
范围**（°c）
连接杆
探头架
（带连接杆）
D790
5
11
密封
平直
1.00～508.00
–20～500
F152
F152A
D790-SM
LCMD-316-5B†
平直
F152
F152A
D790-RL
LCLD-316-5G†
90o
—-
—
D790-SL
LCLD-316-5H
平直
F152
F152A
D791
5
11
密封
90o
1.00～508.00
–20～500
F153
—
D791-RM
5
11
LCMD-316-5C
90o
1.00～508.00
–20～400
—
—
D792
10
7.2
密封
平直
0.50～25.00
0～50
F150
F150A
D793
90o
F151
—
D794
5
7.2
密封
平直
0.75～50.00
0～50
F150
F150A
D795
90o
F151
—
D797
2
22.9
密封
90o
3.80～635.00
–20～400
—
—
D797-SM
LCMD-316-5D
平直
D7226
7.5
8.9
密封
90o
0.71～100.00
–20～150
—
—
D798-LF
D798
7.5
7.2
密封
90o
0.71～100.00
–20～150
—
—
D798-SM
LCMD-316-5J
平直
D799
5
11
密封
90o
1.00～500.00
–20～150
—
—
D7906-SM††
5
11
LCMD-316-5L
平直
1.00～50.00
0～50
—
—
D7908††
7.5
7.2
密封
90o
1.00～37.00
0～50
—
—
MTD705
5
5.1
LCLPD-78-5
90o
1.00～19.00
0～50
—
—
* 取决于材料、探头类型、表面条件和温度。
** 最高温度下，仅使用间歇接触。
† 可提供不锈钢线缆。欲查询工件编号，请与Olympus联系。
†† 用于Olympus® THRU-COAT ® （穿透镀层）技术的探头。
D790探头
实用测量功能（仅存在于MG2-XT型和MG2-DL型仪器中）
THRU-COAT（穿透镀层）
这是一项专利技术：利用单个底面回波，仪器可同时显示镀层厚度和金属的实际厚度。每次测量需根据校准过的材料声速进行调整。Olympus®的THRU-COAT®（穿透镀层）测量需使用D7906-SM和D7908探头。
可调节波形的实时A扫描
这是一个可选实时A扫描模式：用户可在 测厚仪屏幕上直接观察超声信号波形（A 扫描）；核查厚度读数；还可手动调整 增益和抑制设置，以便在挑战性应用中 最大限度地发挥仪器的测量性能。此利 于操作的选项具有以下功能：手动增益 调整、邻区抑制、回波抑制及延迟。
增益调整
此功能对于测量如铸铁等声波衰减较大的材料非常有效。
• 将增益调整预置为高、低或标准
• 手动增益调整的增量可被设置为1 dB（仅适用于实时A扫描模式）
邻区抑制
可抑制因材料表面粗糙或不规则而引起 的噪声回波（仅适用于实时A扫描模式）。
回波到回波
测厚仪利用多重底面回波，显示不计镀 层厚度的金属的实际厚度：
• 自动回波到回波
• 手动回波到回波（仅适用于实时A扫 描模式）可进行以下操作：
-- 增益调整
-- 邻区抑制
-- 回波抑制
B扫描腐蚀成像
Panametrics MG2-XT型与Panametrics MG2-DL型仪器具有将实时测量的厚度读数转换成横截面图像的B扫描功能。该标准功能在需要察看工件厚度如何根据距离的不同而发生变化的应 用中非常有用。在激活B扫描功能后，当探头接触到被测材料时，屏幕上便会出现横截面厚度图像。最小冻结（Freeze Min）功能用于显示扫查区域内的最小厚度。Panametrics MG2-DL型仪器的数据记录器可存储多达1300幅B扫描图像。
高温表面
配用D790系列探头 （D790、D790--SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型与 Panametrics® MG2-DL型测厚仪，是稳定 测量表面温度高达500oC的材料厚度的理 想仪器。MG2系列仪器的零位补偿功能 通过补偿因热漂移引起的探头延迟线在温度上的变化，增加了在高温表面进行材料厚度测量的精确性。
可快速生成可靠文件的数据采集
内置数据记录器
强大的Panametrics® MG2-DL内置数据记录器可存储、回放、传输31000个厚度读数及其识别码。配有可选实时波形模式功能的测厚仪还可存储1300个带有厚度读数的波形。仪器中所有的存储信息都可被方便地传输到计算机中进行统计分析。
字母数字识别码
用户可以为每一个所存的厚度测量指定 一个含8个字符的文件名和最多可有10 个字母数字的识别码。每个厚度测量的信息被全部归档，其中包括材料声速、探头数据和测量模式等参数信息。
机载统计计算器
Panametrics MG2-DL型仪器的内置数据记录器配有机载统计计算器，可生成直接传输到打印机的报告。
栅格显示（GRIDVIEW）
栅格显示功能（只存在于Panametrics MG2-DL型仪器中）可以栅格格式或扩展的线性格式显示所存的厚度数据。该功能便于用户察看和浏览位于某行某列栅格单元中所存的厚度数据：在显示当前厚度测量值的同时，显示其在栅格中的位置。
GAGEVIEW PRO接口程序
可选GageView™Pro接口程序的应用基于Microsoft® Windows®系统。该程序可收集、创建、打印、管理来自Panametrics MG2-DL型仪器的数据。
• 创建数据集与采样。
• 从测厚仪上下载厚度测量采样，以及将采样上传至测厚仪。
• 编辑存储数据。
• 查看包含厚度读数、测厚仪配置数值及探头配置数值的数据集与采样文件信息。
• 将采样数据传输到电子数据表格及其它程序。
• 收集屏幕捕获图象。
• 打印厚度、设置表格、统计、颜色栅格的报告。
• 更新操作软件。
• 托放到Microsoft Excel® 电子数据表格中。
具有自动识别功能的探头
每个MG2系列仪器都与我们公司生产的可互换式双晶探头系列的所有产品兼容。这些探头的频率、直径及适应温度的能力各不相同，可满足几乎所有应用的要求。
|
探头工件编号 |
频率 （MHz） |
端部 直径 （mm） |
线缆 |
连接器 方向 |
范围（在钢中*） （mm） |
温度 范围**（°c） |
连接杆 |
探头架 （带连接杆） |
|
D790 |
5 |
11 |
密封 |
平直 |
1.00～508.00 |
–20～500 |
F152 |
F152A |
|
D790-SM |
LCMD-316-5B† |
平直 |
F152 |
F152A |
||||
|
D790-RL |
LCLD-316-5G† |
90o |
—- |
— |
||||
|
D790-SL |
LCLD-316-5H |
平直 |
F152 |
F152A |
||||
|
D791 |
5 |
11 |
密封 |
90o |
1.00～508.00 |
–20～500 |
F153 |
— |
|
D791-RM |
5 |
11 |
LCMD-316-5C |
90o |
1.00～508.00 |
–20～400 |
— |
— |
|
D792 |
10 |
7.2 |
密封 |
平直 |
0.50～25.00 |
0～50 |
F150 |
F150A |
|
D793 |
90o |
F151 |
— |
|||||
|
D794 |
5 |
7.2 |
密封 |
平直 |
0.75～50.00 |
0～50 |
F150 |
F150A |
|
D795 |
90o |
F151 |
— |
|||||
|
D797 |
2 |
22.9 |
密封 |
90o |
3.80～635.00 |
–20～400 |
— |
— |
|
D797-SM |
LCMD-316-5D |
平直 |
||||||
|
D7226 |
7.5 |
8.9 |
密封 |
90o |
0.71～100.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D798-LF |
||||||||
|
D798 |
7.5 |
7.2 |
密封 |
90o |
0.71～100.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D798-SM |
LCMD-316-5J |
平直 |
||||||
|
D799 |
5 |
11 |
密封 |
90o |
1.00～500.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D7906-SM†† |
5 |
11 |
LCMD-316-5L |
平直 |
1.00～50.00 |
0～50 |
— |
— |
|
D7908†† |
7.5 |
7.2 |
密封 |
90o |
1.00～37.00 |
0～50 |
— |
— |
|
MTD705 |
5 |
5.1 |
LCLPD-78-5 |
90o |
1.00～19.00 |
0～50 |
— |
— |
* 取决于材料、探头类型、表面条件和温度。
** 最高温度下，仅使用间歇接触。
† 可提供不锈钢线缆。欲查询工件编号，请与Olympus联系。
†† 用于Olympus® THRU-COAT ® （穿透镀层）技术的探头。
