产品详情
在三维坐标空间中，被测量对象任意安放，采用激光扫描，快速完成各类几何形
体的特征点、线、面，自由两面的扫描探测，用于逆向工程设计、复杂曲面的快
速扫描、抄数以及工件的三维测量。可完善配置触发测头，实现对各类几何实际
轮廓和虚拟的点、线、面的各类坐标点进行探测和完成尺寸、角度及形位公差的
测量，适合机械、模具、逆向造型、测绘、教学及各类艺术领域。
特点：
1、全花岗石构件结构，刚性强、稳定、保持精度持久；
2、性价比高、维护简单、操作方便、带有温度修正体系；
3、适应生产现场，有机动、机/手动、手动订货选择。其中，手动采用专利技术
、可实现坐标快速、微动驱动和锁紧三位一体的准确坐标定位。
4、柔性选择性强，可配置不同规格精度等级的光栅尺系统、传感器测头系统，可
实现开环、闭环式运动控制，实现扫描、检验测量多种扩展功能。
5、悬挂触发式测头可实现三坐标测量功能。
性能
型号 ZBJE激光扫描坐标测量机（抄数机）
量程 X: 300～1000mm Y：200～1200mm Z：200～800mm
运动方式 手动、机动、自动 的开环、闭环多种方式
激光扫描测头 美国Nxsensor激光扫描传感器
激光扫描测头分辨率 0.005mm
激光扫描测头精度 0.025mm
激光扫描精度 (0.03+L/20) mm L: m
采样速度 最大每秒钟6400点
激光扫描软件 Leading laser scanning software / Nxclone laser
scanning software
文件输出格式 Igs 、nwf 可实现 UG 、PRO-E 等逆向工程软件数据转换
触发测头系统 Renishaw 触发式测头
触发测头测量分辨率 0.001mm
触发测头测量系统精度 (0.005+L/200)mm L: m
触发测头测量系统软件 DELCAM PIN LITE 、DELCAM INSPECT X-DMIS
