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IC200MDD848 plC
1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不
能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等.
2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无
法查出它的上升与下降沿的速度.
四.晶体振荡器
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量,
否则只能采用代换法了.
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电
容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出.
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关
芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点.
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随
意短路.
五.故障现象的分布
1.电路板故障部位的不完全统计:1)芯片损坏30%, 2)分立元件损坏30%,
3)连线(PCB板敷铜线)断裂30%, 4)程序破坏或丢失10%(有上升趋势).
2.由上可知,当待修电路板出现联线和程序有问题时,又没有好板子,既
不熟悉它的连线,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
IC200MDD848 plC
| IC200CHS122 | IC200ALG326 |
| IC200MDL743 | IC200MDL141 |
| IC200MDL750 | IC200TBX164 |
| IC200CBL655 | IC200MDL744 |
| IC200CHS001 | IC200TBX140 |
| IC200CBL602 | IC200TBX123 |
| IC200CHS015 | IC200MDL140 |
| IC200CBL635 | IC200MDD849 |
| IC200CBL615 | IC200PWR001 |
| IC200UAL006 | IC200TBX210 |
| IC200MDL742 | IC200MDD850 |
| IC200UDD040 | IC200UEX064 |
| IC200MDL740 | IC200UEX015 |
| IC200CHS002 | IC200MDD848 |
| IC200CBL555 | IC200UEX014 |
| IC200CBL605 | IC200ALG331 |
| IC200UDD110 | IC200ALG266 |
| IC200MDL730 | IC200TBX110 |
| IC200ACC404 | IC200ALG320 |
| IC200ACC403 | IC200TBX028 |
| IC200ACC312 | IC200TBX128 |
| IC200ETM001 | IC200TBX064 |
| IC200UER008 | IC200MDD847 |
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| IC200MDD842 | IC200TBX220 |
| IC200PWR202 | IC200MDL631 |
| IC200ACC313 | IC200MDD851 |
| IC200ACC304 | IC200ALG260 |
| IC200UEO016 | IC200ALG321 |
| IC200TBM001 | IC200UEX012 |
| IC200PWR012 | IC200TBX120 |
| IC200UER016 | IC200UEX011 |
| IC200PWR201 | IC200ALG322 |
| IC200MDD846 | IC200TBM005 |
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| IC200DTX650 | IC200ALG263 |
| IC200PWR101 | IC200TBX023 |
| IC200ACC303 | IC200ALG327 |
| IC200ACC301 | IC200MDD841 |
| IC200ERM002 | IC200ALG240 |
| IC200ACC200 | IC200MDD843 |
| IC200ACC402 | IC200MDD840 |
| IC200UEI008 | IC200TBX114 |
| IC200PWR011 | IC200ALG261 |
| IC200UDR440 | IC200TBX040 |
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| IC200UEC208 | IC200CPUE05 |
| IC200UEC108 | IC200MDD844 |
| IC200ACC451 | IC200ACC405 |
| IC200ACC202 | IC200SET001 |
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