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DSQC508 驱动器
.功能与参数测试
1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不
能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等.
2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无
法查出它的上升与下降沿的速度.
四.晶体振荡器
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量,
否则只能采用代换法了.
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电
容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出.
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关
芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点.
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随
意短路.
五.故障现象的分布
1.电路板故障部位的不完全统计:1)芯片损坏30%, 2)分立元件损坏30%,
3)连线(PCB板敷铜线)断裂30%, 4)程序破坏或丢失10%(有上升趋势).
2.由上可知,当待修电路板出现联线和程序有问题时,又没有好板子,既
不熟悉它的连线,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
DSQC508 驱动器
| DSQC330 | IMFEC12 |
| DSQC334 | IMHSS02 |
| DSQC336 | IMMFC04 |
| DSQC345A | IMMFC05 |
| DSQC345B | IMMFP01 |
| DSQC345C | IMMFP02 |
| DSQC345D | IMMFP03 |
| DSQC345E | IMMFP03B |
| DSQC346 | IMMFP11 |
| DSQC346B | IMMFP12 |
| DSQC346C | IMMPI01 |
| DSQC346G | IMPCC01 |
| DSQC346U | IMRIO02 |
| DSQC350 | IMSDO01 |
| DSQC350A | IMSET01 |
| DSQC351 | INBIM02 |
| DSQC352A | INBTM01 |
| DSQC355 | INICT01 |
| DSQC358C | INICT03 |
| DSQC358E | INICT03A |
| DSQC358F | INIIT02 |
| DSQC358G | INIIT03 |
| DSQC363 | INIIT12 |
| DSQC365 | INIPT01 |
| DSQC500 | INLIM03 |
| DSQC501 | INNIS01 |
| DSQC503 | INNIS21 |
| DSQC504 | INNPM01 |
| DSQC505 | INNPM11 |
| DSQC506 | INNPM12 |
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| DDC01.1-K050A-DS01-01 |
| DDC01.1-K100A-D |
| DDC01.1-K150A-D |
| DDC01.2.N050C-RL01-01-FW |
| DDC01.2-N100A-D |
| DDC01.2-N100A-DS68-00-FW |
| DDC01.2-N100A-DS01-02-FW |
| DDC01.2-N200A-D |
| DDC01.2-N200A-DA02-01-FW |
| DDC01.2-N200A-DS01-02 |
| DDC01.2-N200A-DS01-02-FW |
| DDC01.2-N200A-DS50-00-FW |
| DDC01.2-N200A-DS50-01-FW |
| DDC01.2-N200A-DS68-00-FW |
| DDC1.1-K100A-DS50-01 |
| DDS2.1-W100-D |
| DDS2.1-W150-D |
| DDS3.1-W050-DA01-00 |
| DDS02 1-W050-D |
| DDS02.1-A050-D |
| DDS02.1-A100-D |
| DDS02.1-A100-DS01-02-FW |
| DDS02.1-A100-DS03-02-FW |
| DDS02.1-A150-D |
| DDS02.1-A200-DS46-00-FW |
| DDS02.1-W015-RA01-00 |
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| DDS02.1-W025-DA01-00 |
| DDS02.1-W050-DA01-00 |
| DDS02.1-W050-DA01-00-FW |
| DDS02.1-W050-DA01-01-FW |
| DDS02.1-W050-DA02-01-FW |
| DDS02.1-W100-D |
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