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1734-TB3 卡件
维修经验总结
一.带程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序,
故在测试中不会损坏程序.但有资料介绍:因制作芯片的材料所致,随着
时间的推移(年头长了),即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要
尽可能给以备份.
2.EEPROM,SPROM等以及带电池的RAM芯片,均极易破坏程序.这类芯片
是否在使用<测试仪>进行VI曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定
论.尽管如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过
多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电
所致.
3.对于电路板上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来.
二.复位电路
1.待修电路板上有大规模集成电路时,应注意复位问题.
2.在测试前装回设备上,反复开,关机器试一试.以及多按几次复
位键.
1734-TB3 卡件
| 1734-232ASC |
| 1734-485ASC |
| 1734-ACNR |
| 1734-ADN |
| 1734-AENT |
| 1734-AENTR |
| 1734-APB |
| 1734-ARM |
| 1734-CTM |
| 1734-EP24DC |
| 1734-FPD |
| 1734-IA2 |
| 1734-IA4 |
| 1734-IB2 |
| 1734-IB4 |
| 1734-IB4D |
| 1734-IB8 |
| 1734-IB8S |
| 1734-IE2C |
| 1734-IE2V |
| 1734-IE4C |
| 1734-IE4S |
| 1734-IE8C |
| 1734-IJ |
| 1734-IK |
| 1734-IM2 |
| 1734-IM4 |
| 1734-IR2 |
| 1734-IR2E |
| 1734-IT2I |
| 1734-IV2 |
| 1734-IV4 |
| 1734-IV8 |
| 1734-OA2 |
| 1734-OA4 |
| 1734-OB2 |
| 1734-OB2E |
| 1734-OB2EP |
| 1734-OB4 |
| 1734-OB4E |
| 1734-OB8 |
| 1734-OB8E |
| 1734-OB8S |
| 1734-OE2C |
| 1734-OE2V |
| 1734-OE4C |
| 1734-OV2E |
| 1734-OV4E |
| 1734-OV8E |
| 1734-OW2 |
| 1734-OW4 |
| 1734-OX2 |
| 1734-PDN |
| 1734-RTB |
| 1734-RTB3 |
| 1734-RTB3S |
| 1734-RTBCJC |
| 1734-RTBS |
| 1734-SSI |
| 1734-TB |
| 1734-TB3 |
| 1734-TB3S |
| 1734-TBCJC |
| 1734-TBS |
| 1734-TOP |
| 1734-TOP3 |
| 1734-TOP3S |
| 1734-TOPS |
| 1734-VHSC24 |
| 1734-VHSC5 |
| 1734-VTM |
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Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（贝加莱），Danfoss（丹佛斯）
，Fuji（富士），Festo（费斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（横河），
Heidenhain（海德汉），Hydac（贺德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（库卡），Kollmorgen（科尔摩根），Lenze（伦茨），Rosemount（罗斯蒙特），LG，LS（产电），
Rexroth（力士乐），Leuze（劳易测），Norgren（诺冠），Pilz（皮尔兹），Pro-face（普洛菲斯），
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,bently (本特利）
