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满足的试验方法:GJB150.5-86 温度冲击试验,符合MIL,IEC,JIS规范
冷热冲击试验箱用途
高低温冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车 配件、金属、化学材料、塑胶等行 业国防工业、航天、兵工业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、 低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量 ,从精密的IC到重机械的元件, 可作为其产品改进的依据或参考。
冷热冲击试验箱满足标准:
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)试验A:低温试验方法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)试验B:高温试验方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高温寿命试验。
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。
国军标 GJB150.3-86;
国军标 GJB150.4-86;
国军标GJB150.5-86;