主营产品：半导体分立器件静态动态参数测试系统
13186093180（总经理）
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￥259000.00
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| 详细参数 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 美瑞克 | 型号 | ST-HTXB |
| 类型 | 电参数测量仪 | 测量对象 | Diode,BJT,MOS-FET,SCR,桥堆, |
| 测量范围 | 1nA~20mA,2000V,3000V | 测量精度 | 1°C,1%,1LSB |
| 频率 | 50hz | 功率 | ≤15KW |
| 电源 | 220v | 加工定制 | 否 |
| 外形尺寸 | 其他 | 重量 | 300kg |
| 产地 | 陕西省西安市 | ||
环境老化试验系统ST-HTXB
陕西天士立科技有限公司
专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
环境老化试验系统ST-HTXB
基础信息
1. 适用于各种封装类型的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT单管/模块、IPM模块等环境老化试验
2. 包括高温反偏/HTRB，高温栅偏/HTGB，高温高湿反偏试
3. 验/H3TRB，其中HTRB和HTGB可二合一
4. 漏电流检测1nA~20mA，高压2000V@3000V
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环境老化试验系统ST-HTXB
主要配置
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性能指标
环境老化试验系统ST-HTXB
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