产品详情
在Leica EM TXP之前,针对目标区域进行定点切割,研磨或抛光等通常是一项耗时耗力,很困难的工作,因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用Leica EM TXP,此类样品都可被轻易处理完成。
另外,借助其多功能的特点,Leica EM TXP也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的*效的前制样工具。
与观察体系合为一体
看清细节
为微尺度制样而生
在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区城
将样品固定在样品悬臂上,在样品处理过程中,通过体视显微镜可对样品进行实时观察,观察角度0°至60°可调,或者调至-30°,则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EM TXP还带有明亮的环形LED光源照明,以便获得更佳的视觉观察效果。
★★★ 对微小目标区域进行精.确定位和样品制备
★★★ 通过立体显微镜实现原位观察
★★★ 多功能化机械处理
★★★ 自动化样品处理过程控制
★★★ 可获得平如镜面的抛光效果
★★★ LED环形光源亮度可调,4分割区段可选
TXP精研一体机
http://www.shjoin-u.com/SonList-2079718.html
https://www.chem17.com/st412007/erlist_2079718.html